JB4040型 β、γ表面污染检测仪，适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。
特点
◎ GM探测器阵列，探测效率高
◎ 便携式设计，重量轻
◎ 单片机控制，软件功能强
◎ LCD液晶显示，会话式操作界面
◎ 计数率显示CPM、CPS、μSv/h
◎ 电池失效报警
主要技术指标
◎ 计数范围：1～106
◎ 探测器面积：25cm2
◎ 灵 敏 度：≥500 CPM/μSv/h
◎ 剂量率范围：0.01～200.00µSv/h
◎ 仪器本底：每分钟计数≤130 CPM
◎ 相对误差：测量范围内相对基本误差≤20%
◎ 供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA
◎ 温度范围：-10℃～45℃
◎ 湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）
◎ 尺寸重量：0.64kg;23×13×4.5（cm）
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